技術文章
TECHNICAL ARTICLES關鍵詞:高分辨率三維X射線顯微成像技術,桌面型高分辨率三維X射線顯微鏡,XRM,纖維取向,孔隙缺陷分布,微觀結構,非破壞性三維成像,高精度成像技術,CMOS探測器,桌面級設備,三維X射線顯微斷層掃描,MicroCT,數字巖石,微觀結構解析摘要高分辨率計算機顯微斷層掃描是科學領域的重要方向,它與多種實驗方法密切相關,并為高級計算物理研究奠定基礎,在這些研究中,高分辨率圖像被用作不同科學模擬模型的輸入。本文呈現的數據集包括使用布魯克Skyscan1272X射線斷層掃描儀獲得的(原...
在科學研究與工業檢測的廣袤天地里,微焦點CT技術應用廣泛。而其能否勝任動態過程觀測這一關鍵使命,正成為諸多領域關注的焦點。微焦點CT具備高分辨率成像的特質,能夠清晰捕捉樣品內部細微結構,當應用于動態過程觀測時,這一能力至關重要。以材料熱變形研究為例,在加熱過程中,材料內部微觀結構歷經復雜演變,從晶粒生長、位錯滑移,到微孔洞的萌生與匯聚,微焦點CT憑借其出色的空間分辨本領,可將這些變化細節一一呈現,為深入理解材料熱變形機制提供直觀依據。時間分辨率是衡量動態觀測能力的關鍵標尺,微...
在單晶材料的研究和應用領域,定向儀的準確性至關重要。然而,隨著科技的飛速發展,全自動化單晶定向儀的出現,不僅在測量精度上達到了新的高度,更在測量速度方面實現了質的飛躍,改變了傳統的手動或半自動定向儀的局面。傳統手動或半自動定向儀在測量過程中,需要人工進行諸多操作。從樣品的加載、角度的調整,到數據的讀取和記錄,每一個步驟都需要耗費大量的時間和精力。而且,由于人為操作的限制,可能會出現操作不精準、重復測量等情況,進一步降低了測量效率。例如,在調整晶體角度時,操作人員需要憑借經驗和...
在現代無損檢測與成像領域,高分辨率CT和微焦點CT都扮演著重要角色,它們雖同屬CT技術范疇,但在成像原理上卻存在著一些具體的區別。高分辨率CT主要通過X射線源發射出相對較寬的扇形X射線束,穿透被檢測物體后,由對面的探測器接收衰減后的射線信號。其成像原理基于不同物質對X射線的吸收差異,通過計算機對大量投影數據的處理,重建出物體內部的二維或三維圖像。在這個過程中,重點在于利用廣泛的射線覆蓋范圍和高精度的數據采集,以獲取物體內部結構的詳細信息,從而實現高分辨率的成像效果。這種成像方...
客戶成果|利用布魯克X射線顯微設備斷層掃描技術對竹節維管束物種間變異分析的無損方法四川農業大學林學院的謝久龍等教授在sciencedirect刊登了《利用X射線顯微計算機斷層掃描無損方法分析竹節維管束的物種間變異》,使用了布魯克的Skyscan2214的顯微CT設備,成功重建了四種竹子的節的三維結構。文章概覽竹節是一種特殊結構,對竹子的生長、物理力學性質和利用都有很大影響。竹節結構致密、硬度特別高,制片十分困難。為探究不同品種竹節維管束解剖特征的差異,本研究利用micro-C...
二維材料的面內-面外聯動解決方案|掠入射x射線衍射分析單層和超薄WS2薄膜(XRD)布魯克X射線部門孟璐介紹薄膜器件的功能高度依賴于其結構特性。X射線衍射(XRD)和x射線反射法(XRR)是研究薄膜的無損檢測技術。檢測信號反饋了結構特性,如膜層厚度、界面粗糙度和電子密度,以及亞納米精度的晶體特性。當薄膜厚度在單層范圍內時,使用實驗室x射線衍射儀研究這些薄膜尤其具有挑戰性,需要應用掠入射技術從薄膜中獲得信號。WS2是下一代二維電子器件中很有前途的候選者。其高載流子遷移率和與厚度...
在材料科學、化學研究等眾多領域,光電子能譜儀憑借光電子能譜實現元素的定量分析。光電子能譜儀的核心在于其利用光子與物質相互作用激發光電子的原理。當一束特定能量的單色光照射到樣品表面時,樣品中的原子或分子吸收光子能量,將束縛態電子激發為光電子逸出體外。由于不同元素具有電子結構,其內層電子結合能各異,這就使得光電子攜帶了樣品元素的“身份標識”。在元素定量分析過程中,首先通過高精度的光譜探測系統收集逸出的光電子。這些光電子進入能量分析器,依據其動能進行篩選與分辨。因為光電子的動能等于...
綠色水熱法合成銪摻雜BaZrO3納米顆粒:結構調控與發光性能突破文章來源:https://doi.org/10.1016/j.ceramint.2022.09.004研究背景墨西哥與西班牙聯合團隊在《CeramicsInternational》發表新的成果,通過環保水熱法成功制備銪摻雜鋯酸鋇(BaZrO3:Eu3?)納米顆粒。該研究利用lexsygSmartTL/OSL系統精確解析材料熱釋光特性,為新型環保發光材料開發提供重要參考。重要發現一、綠色合成工藝1)采用水熱法(20...
掃一掃,關注公眾號
服務電話:
021-34685181