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產品中心少子壽命測試儀（MDP）臺式PID（Potential Induced Degradation）
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臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。
標準：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
易ID和抗PID的太陽能電池 重現性
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可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
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可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
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可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
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可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
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